MICROSCÓPIO METALOGRÁFICO VERTICAL TRINOCULAR ERGONÔMICO, ILUMINAÇÃO INCIDENTE E TRANSMITIDA POR LÂMPADA DE HALOGÊNIO 100W, REVOLVER MOTORIZADO DE 6 LUGARES COM TROCA AUTOMÁTICA DE OBJETIVAS, FILTROS ANALISADORES E POLARIZADORES, DIC NOMARSKI, CAMPO ESCURO - MODELOS HEMERA ML.R/ML.ETR/AR/ATR


Os microscópios da série HemeraML/A são modelos de última geração para aplicações avançadas na ciência dos materiais

Excelente Design Ergonômico
O design do ICOE HemeraML proporciona mais conforto e conveniência para os microscopistas profissionais. Os botões de controle de foco duplo micro e macro podem ser trocados da esquerda para a direita de acordo com a preferência do usuário. Os botões de ajuste com revestimento antiderrapante proporcionam o máximo de conforto durante o deslocamento da amostra. Comutando entre transmissão e epi-iluminação, ajustando a intensidade da luz, trocando os filtros, tudo pode ser controlado sem levantar as mãos para evitar a fadiga.

- ACESSÓRIOS HEMERAML -
Desempenho Óptico Superior - Excelente Sistema Infinito
1. A série HemeraML da ICOE oferece um desempenho óptico superior para as aplicações mais exigentes.
2. O excelente sistema infinito do HemeraML consiste em oculares de campo superamplo (Super Wide Field) SFWF10x25mm, objetivas parafocais de alta abertura numérica de 45mm e uma lente tubular de 200mm de comprimento focal. A lente do tubo de 200mm de distância focal reduz o ângulo dos raios de luz que passam através da ótica e como resultado direto melhora significativamente as correções e o contraste das aberrações cromáticas. As objetivas com maior diâmetro permitem aberturas numéricas muito mais altas melhorando o poder de resolução geral do sistema óptico.

Ocular
1. Campo superamplo (Super Wide Field) SWF10x/25mm, tubos de Ø30mm
2. Campo amplo estendido (Extended Wide Field) EWF10x/22mm, tubos de Ø30mm

Cabeçote de visualização
1. Cabeçote trinocular padrão: tipo Siedentopf com tubos inclinados a 30°. Distância interpupilar ajustável entre 47 e 78mm. O cabeçote trinocular padrão tem um seletor de percurso óptico (100:0/80:20/0:100). Ajuste de dioptrias em ambas as oculares.

2. Cabeçote basculante ergonômica: cabeçote trinocular basculante ergonômico opcional de 0 a 35° com oculares SWF 10x/25mm, distância interpupilar entre 47 e 78mm e tubo fotográfico com tubo padrão Ø23,2mm. O cabeçote basculante trinocular possui um seletor de percurso óptico (100:0/80:20/0:100). Dioptria ± 5 ajustes em ambas as oculares.

ELEVADOR DE NÍVEL OCULAR
O elevador de nível ocular pode ajudar a elevar a altura do ponto ocular em 25,4mm

Revólver
O revólver giratório de alta capacidade permite seis objetivas M26 AIS45mm e foi precisamente usinado para máxima precisão e repetibilidade. O ângulo invertido e o movimento de rolamento de esferas permitem maior conforto de uso. O revólver também tem uma ranhura incorporada para uma gama de deslizadores como o DIC Nomarski ou polarização.

ACESSÓRIO PARA ABAIXAR O REVÓLVER
Com o acessório de descida do revólver, os usuários podem baixar a altura do revólver em 40mm e, portanto, podem usar a platina também em uma posição mais baixa.

OBJETIVAS
Todas as objetivas do ICOE HemeraML são parafocais de 45mm e têm uma rosca de montagem M26mm. Todas as ópticas são tratadas com antifungos e revestidas com antirreflexo para máxima passagem de luz.

Objetiva Plana Semi Acromática infinita 2x/0,06 W.D: 7,5mm, sem correção do vidro de cobertura
Objetiva Plana Semi Acromática infinita 5x/0,15 W.D: 20mm, sem correção do vidro de cobertura
Objetiva Plana Semi Acromática infinita 10x/0,30 W.D: 11mm, sem correção do vidro de cobertura
Objetiva Plana Semi Acromática infinita 20x/0,45 W.D: 3,1mm, sem correção do vidro de cobertura
Objetiva Plana Apocromática infinita 50x/0,80 W.D: 1mm, sem correção do vidro de cobertura
Objetiva Plana Apocromática infinita 100x/0,90 W.D: 1mm, sem correção do vidro de cobertura

DIC NOMARSKI
Com o redesenho do módulo DIC, as diferenças de altura - que normalmente não podem ser exibidas utilizando técnicas de campo claro - podem agora ser visualizadas. Estes relevos como imagens são ideais para inspeções de superfície de pastilhas, telas LCD etc.

PLATINA
1. Platina grande de 215x170mm com 105x105mm integrado a platina mecânica à direita, com vidro e inserto metálico
2. A altura da platina pode ser reduzida para amostras grandes (1 a 28mm de tamanho de amostra padrão, tamanho de amostra grande até 55mm)
3. Suporte de wafer para 2″,3″,4″ wafer & Uma prateleira para suporte de wafer

Nota: Para ergonomia do usuário, a altura da platina pode ser abaixada em uma polegada mantendo a altura padrão da amostra, usando o acessório opcional de abaixamento do revólver.

CONDENSADOR DE LONGA DISTÂNCIA DE TRABALHO
Em altura ajustável longa distância de trabalho (10,2 mm) condensador N.A. 0,65 com marcas de identificação numéricas de abertura permite fácil ajuste.

FOCALIZAÇÃO
1. Ajuste coaxial macro e micrométrico, 100 graduações, 1μm precisão, 100μm por rotação, curso total aproximadamente 35mm
2. Fornecido com um batente de rack ajustável para evitar danos à amostra e objetivas
3. Os ajustes macrométricos são equipados com controle de fricção
4. Os botões de controle de foco duplo micro e macrométrico podem ser trocados da esquerda para a direita de acordo com a preferência do usuário.

EPI-ILUMINADOR METALÚRGICO E LUZ REFLETIDA
1. O disco rotativo do Epi-iluminador permite alternar rapidamente entre as posições de campo escuro, campo claro e campo claro escurecido, melhorando assim a facilidade de uso. Um analisador rotativo combinado com um polarizador pode ser facilmente inserido nos slots do epi-iluminador para imagens polarizadas de alta qualidade. O campo suavemente controlado e os diafragmas de abertura são usados para melhorar o contraste da imagem.

2. Iluminação de halogênio ajustável de 100W 24V refletida, fonte de alimentação interna de 100-240V.

3. A iluminação LED é opcional.

ILUMINADOR TRANSMITIDO
1. Iluminação de halogênio de 100W com intensidade diascópica ajustável e fonte de alimentação interna de 100-240V. A iluminação halógena diascópica vem com dois filtros de densidade neutra push-in/push-out para atenuação suave da intensidade luminosa para todos os tipos de amostras.
2. A iluminação LED é opcional

FUNÇÃO ECO
A função ECO é desenvolvida para evitar perdas desnecessárias de energia. A iluminação do microscópio desliga-se automaticamente logo após os microscopistas se afastarem de sua posição.

VÁRIOS MÉTODOS DE OBSERVAÇÃO
Campo Escuro

O campo escure permite a observação de luz dispersa ou difratada a partir do espécime. Qualquer coisa que não seja plana reflete esta luz enquanto, que qualquer coisa que seja plana parece escura, de modo que as imperfeições se destacam claramente. O usuário pode identificar a existência de até mesmo um arranhão ou falha de um minuto até o nível de 8nm - menor que o limite de potência de resolução de um microscópio ótico. O campo escuro é ideal para detectar arranhões ou falhas por minuto em uma amostra e examinar amostras de superfície espelhadas, incluindo wafers.

Luz transmitida
Para amostras transparentes como LCDs, plásticos e materiais de vidro, a verdadeira observação da luz transmitida está disponível através da utilização de uma variedade de condensadores. A observação de espécimes em campo brilhante transmitido e luz polarizada pode ser realizada tudo em um sistema conveniente.

Polarização
Esta técnica de observação microscópica utiliza a luz polarizada gerada por um conjunto de filtros (analisador e polarizador). As características da amostra afetam diretamente a intensidade da luz refletida através do sistema. Ela é adequada para estruturas metalúrgicas (ou seja, padrão de crescimento de grafite sobre ferro fundido nodular), minerais, LCDs e, materiais semicondutores.

Contraste de Interferência Diferencial
A técnica DIC ajuda na microscopia a melhorar o contraste das amostras. A técnica é baseada na interferometria para obter informações sobre a pequena diferença no comprimento do caminho óptico entre dois raios de luz polarizados ortogonalmente provenientes da amostra. Isto resulta em uma imagem da amostra aparecendo como um alívio físico tridimensional. A luz polarizada é dividida em dois feixes de luz coerente ortogonalmente polarizados por um prisma de Wollaston chamado Nomarski modificado e é então deslocada espacialmente pela amostra por uma pequena quantidade que normalmente é semelhante à resolução do microscópio.

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